用于执行TD-SCDMA测量的TDD-LTE测量间隙[发明专利]
2024-06-03
来源：锐游网
专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：用于执行TD-SCDMA测量的TDD-LTE测量间隙专利类型：发明专利发明人：金汤,石光明,李国钧申请号：CN201110097009.5申请日：20110221公开号：CN102572734A公开日：20120711
摘要：本公开内容的某些方面提出了增强用于TD-SCDMA测量的测量间隙的技术。某些方面提供了一种方法，该方法大体上包括：接收来自应用第一无线接入技术(RAT)的基站(BS)的消息，该消息指示测量间隙，在测量间隙中用户设备(UE)在第二RAT中进行测量，该消息包括对测量间隙的起始位置和测量间隙的持续时间的指示；以及在测量间隙期间进行测量。
申请人：高通股份有限公司
地址：美国加利福尼亚
国籍：US
代理机构：永新专利商标代理有限公司
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